Используются для определения структурной целостности и рабочих характеристик объектов испытаний в виде электронных компонентов и других электронных изделий после того, как они подвергаются испытаниям на ускорение в устойчивом состоянии (постоянное ускорение), создаваемое окружающей средой (кроме силы тяжести).
Также данный тип испытаний позволяет оценивать электрические параметры объекта испытаний при постоянном ускорении, чтобы убедиться, что эти образцы могут нормально работать в необходимых условиях окружающей среды, сохраняя структуру и конструкцию.